電感耦合等離子體質譜

電感耦合等離子體質譜

同位素分析測試技術
是20世紀80年代發展起來的無機元素和同位素分析測試技術,它以獨特的接口技術将電感耦合等離子體的高溫電離特性與質譜計的靈敏快速掃描的優點相結合而形成一種高靈敏度的分析技術。[1]
  • 中文名:電感耦合等離子體質譜
  • 外文名:inductively coupled plasma-mass spectrometry(ICP-MS)
  • 别名:
  • 性質:分析技術
  • 發展時間:20世紀80年代

簡介

學科:岩礦分析與鑒定

詞目:電感耦合等離子質譜

英文:inductively coupled plasma-mass spectrometry(ICP-MS)

釋文:ICP-MS儀器所使用的等離子體除了方位和線圈接地方式外,與發射光譜中使用的基本相同。所使用的質量分析器、離子檢測器和數據采集系統又與四極杆GC-MS儀器相類似。質量分析器多采用四極杆質譜計,也有采用具有高分辨的雙聚焦扇形磁場質譜計、飛行時間質譜計等。該技術的特點:靈敏度高;速度快,可在幾分鐘内完成幾十個元素的定量測定;譜線簡單,幹擾相對于光譜技術要少;線性範圍可達7~9個數量級;樣品的制備和引入相對于其他質譜技術簡單;既可用于元素分析,還可進行同位素組成的快速測定;測定精密度(RSD)可到0.1%。

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