開發與調試
飛針測試機的編程比傳統的ICT系統更容易、更快捷。以GenRad公司的GRPILOT系統為例,測試開發員将設計工程師的CAD數據轉換成可使用的文件,這個過程需要1-4個小時。然後該新文件通過測試程序運行,産生一個.IGE和.SPC文件,再放入一個目錄。然後軟件運行在目錄内産生需要測試UUT的所有文件。短路的測試類型是從選項頁面内選擇。測試機在UUT上使用的參考點從CAD信息中選擇。UUT放在平台上固定。在軟件開發完成後,該程序被“擰進去”,以保證選擇到盡可能最佳的測試位置。這時加入各種元件“保護”(元件測試隔離)。一個典型的1000個節點的UUT的測試開發所花的時間是4-6個小時。
在軟件開發和裝載完成以後,開始典型的飛針測試過程的測試調試。調試是測試開發員接下來的工作,需要用來獲得盡可能最佳的UUT測試複蓋。在調試過程中,檢查每個元件的上下測試極限,确認探針的接觸位置和零件值。典型的1000個節點的UUT調試可能花6-8小時。
飛針測試機的開發容易和調試周期短,使得UUT的測試程序開發對測試工程師的要求相當少。在接到CAD數據和UUT準備好測試之間這段短時間,允許制造過程的最大數量的靈活性。相反,傳統ICT的編程與夾具開發可能需要160小時和調試16-40小時。
缺點
由于具有編程容易,能夠在數小時内測試原型樣機裝配,以及測試低産量的UUT而沒有典型的夾具開發費用,飛針測試可解決生産環境中的許多問題。但是還不是所有的生産測試問題都可通過使用飛針測試來解決。
和任何事情一樣,飛針測試也有其缺點。因為測試探針與通路孔和測試焊盤上的焊錫發生物理接觸,可能會在焊錫上留下小凹坑。而對于某些OEM客戶來說,這些小凹坑可能被認為是外觀缺陷,造成拒絕接收。不過目前已經有些高端飛針測試設備廠商已經研發出新技術,采用“軟着陸”即可避免在焊錫上留下明顯凹坑,甚至可以在陶瓷片上進行測試。
此外,因為有時在沒有測試焊盤的地方探針會接觸到元件引腳,所以可能會錯過松脫或焊接不良的元件引腳。
此外探針測試機還限制電路闆的尺寸:不能超過16"24"。目前SPEA的最大測試範圍可達27''*24''(686*610mm)。
飛針測試時間是另一個主要因素。一台典型的針床測試機可能花30秒測試UUT的地方,飛針測試機可能花8-10分鐘。另外針床測試機可使用頂面夾具同時測試雙面PCB的頂面與底面元件,而飛針測試機要求操作員測試完一面,然後翻轉再測試另一面,由此看出飛針測試并不能很好适應大批量生産的要求。SPEA的測試時間最快可達平均每秒20個部件左右(視乎每個部件的高度及距離)。
優點
盡管有上述這些缺點,飛針測試仍不失為一個有價值的工具。其優點包括:快速測試開發;較低成本測試方法;快速轉換的靈活性;以及在原型階段為設計人員提供快速的反饋。因此,和傳統的ICT比較,飛針測試所要求的時間通過減少總的測試時間足以彌補。使用飛針測試系統的好處大于缺點。例如,裝配過程中,這樣一個系統提供在接收到CAD文件幾小時後就可以開始生産。因此,原型電路闆在裝配後數小時即可測試,不象ICT,高成本的測試開發與夾具可能将過程延誤幾天,甚至幾月。
除此之外,由于設定、編程和測試的簡單與快速,實際上一般技術裝配人員,而不是工程師,就可以操作測試。飛針測試也存在靈活性,做到快速測試轉換和過程錯誤的快速反饋。還有,因為飛針測試不需要夾具開發成本,所以它是一個可以放在典型測試過程前面的低成本系統。并且因為飛針測試機改變了低産量和快速轉換裝配的測試方法,通常需要幾周開發的測試現在數小時就可以得到。
光學對位
全自動光學對位系統和傳統飛針機結合,可以全程全自動光學對位,使飛針測試在圖像處理軟件和飛針專用對位相機的幫助下更便捷、更準确。
在傳統飛針測試機上,加裝飛針專用對位相機和相應的圖像處理軟件;飛針測試全程全自動識别并檢測相應位置,使飛針測試快捷安全。
因為考慮到飛針機的快速和精準的要求,固在工業硬件和圖像硬件選擇上,應首先考慮到輕量化、工業化、光學無畸變、圖像處理算法高速度;這樣在實際飛針測試過程中不會出現因為工業硬件本身的重量而影響測試的精準、不會出現丢步、不會因為圖像處理算法而影響飛針測試速度等
VS-670H超迷你工業放大儀器對位相機
1、采用SONYCCD傳感器,更好的使用壽命、更好的可靠性和穩定性
2、DSP數字信号處理技術,使圖像更清晰,輪廓更分明,對比度更強。
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6、自動背光補償:優質的數字背光補償功能(可關閉)
7、結構緊湊,外型小巧、功耗低、超級放大光學鏡頭一體化
【應用領域】
飛針測試、工業檢測、工業測量、圖像識别、對位定位、儀器儀表、顯微放大、機器視覺等工業自動化領域。